李明哲
國立臺北教育大學 資訊科學研究所 研究生
Email：leetony411@gmail.com
劉遠楨
國立臺北教育大學資訊科學研究所教授
Email：liu@tea.ntue.edu.tw
摘要
本論文提出一新型電子產品測試平台架構。在做法上，應用低成本單晶片架構，先行設計出IC 檢測板及感測元件檢測板，並搭配溫濕度感測器、LCD 等環境監控元件，再利用物聯網的技術，可由電腦或手持式裝置如手機即時觀看測試結果及顯示於主控板上，並結合案例開發，完成整體測試程式的開發及各項待測電路板及監控電路板之設計，真正實現並驗證該測試系統。
實驗結果顯示本研究所提的智慧型晶片測試平台系統，能提供一低成本且高效能智慧監控測試系統，讓積體電路製造工廠在朝向工業4.0 的升級中，能將產品資訊、網路通訊和IC 製造工業技術實際融合。
關鍵字：測試平台、積體電路、物聯網、工業4.0